【轉知】清華大學辦理「ASME Journal of Electronic Packaging (JEP) 」徵稿
一、本次徵件主題: Reliability of 3D IC packaging: Recent Progresses in Analysis, Simulation and Experimental Methodology。
二、相關徵求說明請參閱網址:https://reurl.cc/vEaMNL。
一、本次徵件主題: Reliability of 3D IC packaging: Recent Progresses in Analysis, Simulation and Experimental Methodology。
二、相關徵求說明請參閱網址:https://reurl.cc/vEaMNL。
|
70101台南市東區大學路一號 光復校區雲平大樓東棟三樓 📍 電話 : (06)2757575 轉 50200 / 50202 |
